蔡司顯微鏡半導體失效分析方案亮相半導體大會
分類:公司新聞 發布時間:2023-05-16 33109次瀏覽
由重慶市經濟和信息化委員會、中國電子學會、中國汽車工業協會支持,重慶市電子學...
由重慶市經濟和信息化委員會、中國電子學會、中國汽車工業協會支持,重慶市電子學會、重慶市半導體行業協會、四川省電子學會、重慶市電源學會、重慶市電子電路製造行業協會聯合主辦的第五屆未來半導體產業發展大會將於2023年5月10日在重慶國際博覽中心舉行。

推薦嘉賓——黃承梁
卡爾中山蔡司(上海)管理有限公司顯微鏡部門業務拓展經理,負責中山蔡司顯微鏡在半導體、顯示、電子等行業的業務開發拓展,為客戶提供創新解決方案。在美國加州大學爾灣分校(UC Irvine)畢業後,主要從事半導體電性失效分析、物性失效分析和計量學等相關工作,擁有豐富的半導體先進製程的失效分析經驗和電鏡、FIB、納米探針係統應用開發及客戶支持經驗。
演講提綱
蔡司顯微鏡的多尺度顯微分析解決方案,幫助功率和化合物半導體、半導體材料、MEMS器件等工廠實現高效率的失效分析和良率提升。

第五屆未來半導體產業發展大會
立足雲、貴、川、渝、陝等中西部地區,輻射全球產業鏈,聚焦半導體行業關鍵技術熱點疑難,特邀國內外知名半導體企業、科研院校及媒體界專家及代表,聚焦“IC設計、先進封測技術、芯片、半導體創新材料、半導體投資”等熱點難點開展多場主題論壇,助推產業鏈政產學研信息互通、資源共享、優勢互補,提升產業創新能力和發展質量。
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