理化科學實驗中心新購的蔡司GeminiSEM 450場發射掃描電子顯微鏡已於近日安裝完畢。本儀器配備Gemini2shuangjuguangdianziguangguan
，kezaijinguanggaofenbianlvchengxiangheyuanguangfenximoshizhijianwufengqiehuan，weigezhongbutongdeyingyongtigongquanfangweideshiyongxinghelinghuoxing。keguanchawutideercidianzixianghebeisanshedianzixiang，ketongshijinxingX射線能譜分析和背散射電子衍射分析。

　　1
、固體材料表麵形貌的觀察

　　觀察樣品時不必噴金或少噴金。可廣泛應用於表麵形貌觀察

、粒度測量
、集成電路質量檢測、斷裂分析
、生物、物理、化學、納米材料、金屬材料、高分子材料等失效分析等。

　　2.背散射電子圖像(BSE)

　　背(bei)散(san)射(she)電(dian)子(zi)圖(tu)像(xiang)可(ke)以(yi)顯(xian)示(shi)樣(yang)品(pin)的(de)原(yuan)子(zi)序(xu)數(shu)或(huo)化(hua)學(xue)成(cheng)分(fen)的(de)差(cha)異(yi)
，即(ji)樣(yang)品(pin)的(de)成(cheng)分(fen)對(dui)比(bi)度(du)。根(gen)據(ju)背(bei)散(san)射(she)電(dian)子(zi)圖(tu)像(xiang)的(de)明(ming)暗(an)，可(ke)以(yi)區(qu)分(fen)相(xiang)應(ying)區(qu)域(yu)內(nei)原(yuan)子(zi)序(xu)數(shu)的(de)相(xiang)對(dui)大(da)小(xiao)，可(ke)以(yi)分(fen)析(xi)陶(tao)瓷(ci)、金屬或合金的微觀結構。

　　3. X 射線能譜 (EDS)

　　配備Oxford Aztec係列X射線光譜儀
，分析元素範圍5B至92U

，可對固體材料進行微區元素組成分析

，適用於生物、醫學、化學、化工
、物理、金屬科學和其他相關學科。物體微區域元素的定性和半定量分析。

　　4. 背散射電子衍射 (EBSD)

　　BSD可以測量晶體材料的晶體結構和取向，用於研究材料的微觀結構和織構。它已成為材料研究中一種有效的分析方法。 EBSD技術目前的應用領域包括：工業生產的金屬和合金、陶瓷、半導體
、超導體、礦石——研究各種現象，如熱機械處理過程
、塑性變形過程以及與取向相關的性能(成形性、磁性能等) .)、界麵特性(腐蝕
、裂紋

、熱裂紋等)、相識別等。